不同粒度測(cè)試方法的優(yōu)缺點(diǎn)

(1)激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，涵蓋行業(yè)廣泛，可實(shí)現(xiàn)濕法、干法、噴霧以及在線測(cè)量，也是當(dāng)下zui常用的粒度檢測(cè)儀器。缺點(diǎn)：數(shù)據(jù)模型以及算法參數(shù)影響較大，成本相對(duì)較高。

(2)靜態(tài)圖像法：由顯微鏡、攝像機(jī)和圖像分析軟件組成。優(yōu)點(diǎn)：成本較低，操作簡(jiǎn)單，圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析。缺點(diǎn)：分析速度慢（制作標(biāo)本等工序），無(wú)法分析細(xì)顆粒（如<1μm）。 

(3)動(dòng)態(tài)圖像法：由顯微鏡、高速攝像機(jī)、樣品分散系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成。優(yōu)點(diǎn)：顆粒圖像直觀清晰，操作簡(jiǎn)便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可干法也可濕法，可測(cè)量zui大顆粒，可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析。缺點(diǎn)：分析細(xì)顆粒（如<1μm）圖像不清晰，誤差較大，成本較高。

(4)電鏡法：用電子顯微鏡（掃描電鏡或透射電鏡）拍攝顆粒圖像，然后再進(jìn)行圖像分析的方法。優(yōu)點(diǎn)：能分析納米顆粒和超細(xì)顆粒，圖像清晰，表面紋理可見(jiàn)，分辨率高，是表征納米材料粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。缺點(diǎn)：?jiǎn)畏鶊D像中的顆粒數(shù)少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。

(5)篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低，常用于大于38μm（400目）的樣品。缺點(diǎn)：不能用于超細(xì)樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

(6)沉降法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格較低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較大。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)，操作較復(fù)雜，結(jié)果易受環(huán)境因素影響。

(7)光阻法：優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試速度快，可測(cè)液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高，樣品用量少。缺點(diǎn)：進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜，不適用粒徑<1μm的樣品。

(8)電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，可測(cè)顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn)：不適合測(cè)量超細(xì)樣品和寬分布樣品，更換小孔管比較麻煩。

(9)超聲波法：優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，無(wú)需取樣。缺點(diǎn)：分辨率較低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差，結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。

(10)透氣法（費(fèi)氏法）：優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低，不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可直接測(cè)量干粉，可測(cè)磁性材料粉體。缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值，不能測(cè)粒度分布。